【TC Wafer】高低温探针台晶圆测温系统

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什么叫探针台?

探针台是放置晶圆然后进行温度控制的平台。它一般配备有很多微细探针,用以与晶圆表层的指定区域触碰,并进行温度测量和电性能测试。TC Wafer

探针台的运行基本原理取决于通过探针与被测器件上的PAD点精准对位,并实现测试机输出激励信号的互通与信号反馈,最后获取和采集测试数据。高低温真空探针台能够很好的满足极低温测试和高温无氧化测设。在整体测试过程中,工程师们向往以最快的时间获取可信赖的测试数据。

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高低温晶圆探针台要确保

1)温度的均匀稳定性;为晶圆测试提供精确的温度环境,既反应探针台机械的稳定性,又是影响测试数据真实结果的关键;

2)升降温速率;探针台的升降温速率是一项关键的指标。低温测试时,防止空气中水蒸气在样品上凝结成露水,从而减少漏电过大或探针没法触碰电极而使测试失败。与此同时,在真空环境中,传热的形式影响下,能更高效的提高制冷效率。高温测试时,在真空环境下,也可以最大限度地减少样品氧化,从而减少样品电性误差、物理和机械上的形变。

TC Wafer

瑞乐科技TC-Wafer高低温探针台晶圆测温系统应用于高低温晶圆探针台,测量精度可达mk级别,可以多区测量晶圆特定位置的温度真实值,也可以精准描绘晶圆整体的温度分布状况,还能够监控半导体行业控温环节中晶圆所发生的温度变化,了解升温、降温以及恒温环节中设备实效性。

瑞乐科技还提供了整个试验室流程的有线温度计量,保证温度传感器的长期测量精度。

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广东瑞乐科技专注于高精度温测、温控设备的生产和研发定做,为半导体行业提供科学的国产解决方法,更多有关TC Wafer咨询请关注瑞乐官网

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